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KD5310高壓絕緣電阻測(cè)試儀使用方法

點(diǎn)擊次數(shù):105 更新時(shí)間:2024-11-04

KD5310高壓絕緣電阻測(cè)試儀使用方法

3.1、KD5310高壓絕緣電阻測(cè)試儀系統(tǒng)介紹  

高壓絕緣電阻測(cè)試儀

1) 交流電源插頭及指示燈:用于接入AC220V 50HZ/60HZ交流電,給電池充電。

2) 液晶顯示屏:用于顯示交互信息與測(cè)試結(jié)果。

3) 開關(guān)鍵:執(zhí)行儀器開機(jī)/關(guān)機(jī)操作,以及屏幕對(duì)應(yīng)位置的功能操作。

4) 功能按鍵:執(zhí)行屏幕對(duì)應(yīng)位置的功能操作。

5) 測(cè)試按鈕:調(diào)整好參數(shù)后,按住此按鈕1秒開始測(cè)試,再次按下停止測(cè)試(進(jìn)入設(shè)置菜單時(shí)無效)

6) 測(cè)試端子L(-):用于接被測(cè)設(shè)備的導(dǎo)體部分。

7) 測(cè)試端子G:用于接保護(hù)環(huán)或屏蔽層。

8) 測(cè)試端子E(+):用于接被測(cè)設(shè)備的外殼,同時(shí)設(shè)備外殼應(yīng)與大地可靠連接。

3.2、接線

測(cè)量線路絕緣電阻時(shí),L柱接導(dǎo)線,E柱接地;

測(cè)量電機(jī)繞組的絕緣電阻時(shí),L柱接電機(jī)繞組引線,E柱接電機(jī)外殼同時(shí)接地

測(cè)量繞組之間的絕緣電阻,LE兩列分別接兩個(gè)繞組引線;

測(cè)量電纜對(duì)地絕緣電阻時(shí),L柱接電纜芯線、E柱接電纜外表面同時(shí)接地、G柱接電纜屏蔽層。

G(保護(hù)環(huán))的使用(本機(jī)為低電壓側(cè)屏蔽)

測(cè)量高絕緣電阻時(shí),應(yīng)在試品兩測(cè)量端之間的表面上套一導(dǎo)體保護(hù)環(huán),并將該導(dǎo)體保護(hù)環(huán)用一測(cè)試線連接到儀表的G,以消除試品表面泄漏電流引起的測(cè)量誤差,保障測(cè)試準(zhǔn)確。尤其在對(duì)儀表檢定時(shí)G端應(yīng)接在電阻箱的的G端,以保證正常檢定。

3.3、開機(jī)

按開機(jī)鍵,蜂鳴器“滴"的響一聲,儀器開機(jī),進(jìn)入初始界面,如下圖:

高壓絕緣電阻測(cè)試儀


儀器開機(jī)后,無操作時(shí),3分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)。

3.4、測(cè)試電壓設(shè)置

在初始界面,按電壓對(duì)應(yīng)的按鍵,界面左上角的測(cè)試電壓循環(huán)顯示,500V、1000V、2500V、5000V、10000V,直至顯示所需測(cè)試電壓,設(shè)置完成。

3.5、測(cè)試時(shí)長設(shè)置

在初始界面,按時(shí)長對(duì)應(yīng)的按鍵,界面右上角的測(cè)試時(shí)長循環(huán)顯示00:30、01:00、10:00、30:00,直至顯示所需測(cè)試時(shí)長,設(shè)置完成。

3.6、短路電流設(shè)置

在初始界面,按4對(duì)應(yīng)的按鍵,界面翻頁至下一界面,如下圖

高壓絕緣電阻測(cè)試儀

在此界面,按電流對(duì)應(yīng)的按鍵,短路電流值循環(huán)顯示2mA、3mA、4mA、5mA,直至顯示所需短路電流,設(shè)置完成。通常設(shè)置為最大值即可,也可依據(jù)規(guī)程規(guī)定的短路電流值選擇。

3.7、濾波設(shè)置

在上圖中所在界面,按濾波對(duì)應(yīng)的按鍵,濾波參數(shù)循環(huán)顯示 關(guān)、小、中、大,直至顯示所需濾波參數(shù),設(shè)置完成。

關(guān):無濾波;(無干擾情形下推薦)

:硬件低通濾波;(適用于多數(shù)情形)

:軟件低通濾波;(大于100G高阻時(shí)推薦選擇)

:軟件+硬件低通濾波;(大于1T高阻時(shí)推薦選擇)

3.8、測(cè)試

確認(rèn)接線正確牢固,按照需要設(shè)置完成后,按測(cè)試按鈕一秒鐘,開始測(cè)試。(測(cè)試過程中,再次按下此按鈕,停止測(cè)試,或等計(jì)時(shí)完成后自動(dòng)停止測(cè)試)。測(cè)試界面如下圖:

高壓絕緣電阻測(cè)試儀


其中:0509V——實(shí)際測(cè)試電壓

     00:09 ——測(cè)試時(shí)長計(jì)時(shí)

    122GΩ——絕緣電阻值(1000kΩ=1MΩ,1000MΩ=1GΩ,1000GΩ=1TΩ)

    4.16nA ——泄露電流(1mA=1000μA,1μA=1000nA)

下方黑柱——絕緣電阻模擬柱。

等設(shè)置時(shí)間到,測(cè)試自動(dòng)停止,顯示測(cè)試結(jié)果界面,如下圖:

高壓絕緣電阻測(cè)試儀

其中:DRA為吸收比,PI為極化指數(shù)(請(qǐng)參考3.9吸收比與極化指數(shù))。

Rt:查看15S30S、60S、600S時(shí)的電阻值,查看結(jié)果如下圖:

高壓絕緣電阻測(cè)試儀


用戶可摘錄所需數(shù)據(jù)。

3.9、吸收比與極化指數(shù)

極化指數(shù)PI和吸收比DAR都表示被測(cè)物承受測(cè)量電壓后一段時(shí)間內(nèi)絕緣電阻的變化情況。

由于給設(shè)備加直流電壓的時(shí)間長度不同,對(duì)設(shè)備的潮濕等狀況的影響不同,因此比較兩個(gè)時(shí)刻的比值,可以判斷設(shè)備是否是因?yàn)槌睗竦脑蛴绊懥私^緣性能。

對(duì)于一般的絕緣測(cè)試,如外殼絕緣、工具手柄等一般在較短時(shí)間能測(cè)試出隨施加電壓時(shí)間增加漏電流是否增加情況,所以一般用較短時(shí)間的試驗(yàn)就能測(cè)試出來,短時(shí)間測(cè)試的絕緣電阻比值DAR稱為吸收比(一般在1.2以上為合格),但對(duì)于大容量和吸收過程較長的被測(cè)品,如變壓器、發(fā)電機(jī)、電纜、電容器等電氣設(shè)備,有時(shí)吸收比值(DAR)尚不足以反映吸收的全過程,可采用較長時(shí)間的絕緣電阻比值,即10分鐘時(shí)的絕緣電阻(R10min)與l分鐘時(shí)的絕緣電阻(R1min)的比值PI來描述絕緣吸收的全過程,PI稱為極化指數(shù)。

DRA——吸收比(DAR=R60/R15)設(shè)置測(cè)試時(shí)長需≥1分鐘

PI——極化指數(shù)(PI=R600/R60)設(shè)置測(cè)試時(shí)長需≥10分鐘

3.10、屏幕對(duì)比度設(shè)置

如果用戶感覺屏幕不清楚,可以調(diào)節(jié)屏幕對(duì)比度。

在關(guān)機(jī)狀態(tài)下,按住2鍵不放(第二個(gè)鍵),

1鍵(開機(jī)鍵)開機(jī),直到進(jìn)入對(duì)比度調(diào)節(jié)菜單;

1鍵或2鍵調(diào)節(jié)對(duì)比度,直到用戶認(rèn)為對(duì)比度合適;

4鍵保存并退出,如果不需要調(diào)節(jié)則按3鍵退出。

四、KD5310高壓絕緣電阻測(cè)試儀注意事項(xiàng)

4.1、測(cè)試過程注意事項(xiàng)

1) 確認(rèn)被測(cè)試品安全接地,試品不帶電。

2) 確認(rèn)儀表E(接地端)已接地。

3) 請(qǐng)勿在易燃場(chǎng)所測(cè)試,火花可能會(huì)引起爆炸。

4) 請(qǐng)勿在儀器表面潮濕或操作者手潮濕時(shí)操作。

5) 在測(cè)量時(shí)或測(cè)試后請(qǐng)勿立刻觸摸被測(cè)回路,可能導(dǎo)致觸電事故。

6) 測(cè)試線或端口發(fā)現(xiàn)易損害絕緣特性的污垢或炭化物時(shí)請(qǐng)停止測(cè)試。

7) 確定所有測(cè)試導(dǎo)線與儀表的測(cè)試端口連接牢固。

8) 測(cè)量前,確認(rèn)電壓選擇在適當(dāng)?shù)闹怠?/span>

9) 測(cè)試過程中,禁止移動(dòng)測(cè)試線或斷開測(cè)試線路。

10) 請(qǐng)使用濕布或清潔劑來清潔儀器外殼,請(qǐng)勿使用研磨劑或溶劑。